Satlantic公司Profiler II自由落体式水下光谱剖面仪 - 劳雷工业
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Satlantic公司Profiler II自由落体式水下光谱剖面仪

物理海洋仪器设备多参数光学测量仪Satlantic

Profiler II可做自由落体式的水色剖面测量,也可以连接一个分离式的浮筒对海水近表面水层进行测量(HyperTSRB)。它可以搭载多光谱或高光谱传感器,给研究者提供多种环境、多用途的光学测量平台,还可选配电导率、温度、 WET Labs ECO puck 传感器,在测量固有光学特性的同时,提供更加全面的综合测量。Profiler II可以提供的数据有:离水辐亮度、遥感反射、能量通量、有效光合辐射和漫衰减系数等。

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自由落体式的剖面测量模式:
Profiler II的最大优势是可以远离船体并作自由落体式剖面测量,避免了船体阴影的干扰,仪器自身体积小、整体采用流线形设计,数据质量极高。Profiler II配备压力传感器和倾斜度传感器,剖面测量时监测下降速度和角度。测量数据实时由主机软件SatView显示和存储,并由数据处理软件ProSoft进行数据处理。

水面测量模式:
Profiler II系统可以通过连接一个浮球立即将剖面仪改装为近水面观测装置,提供实时观测数据。

采样频率: 最大12Hz
耐压水深: 220m
附加传感器: 测量范围   测量精度 测量分辨率
压力传感器 30 bar (435 psi) 0.01 %全量程  0.002 %全量程
10 bar (145 psi)可选
外置温度传感器 2 ~+ 32 ℃ 0.005℃  0.001℃
电导率传感器 0-70mS/cm 0-70mS/cm 0.001 mS/cm
其他可选传感器: WET Labs ECO系列传感器:
荧光计、后向散射计、浊度计